元器件參數測量儀

產品介紹：　　　

　聯系方式：

　　AS2875低頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、AS2875型介電常數測試主機、組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的最佳解決方案。

AS2875主要參數:

型號	AS2875-A	AS2875-B
工作頻率范圍	1KHz～200kHz 精度：±0.01%	20Hz～1MHz 精度：±0.01%
電容測量范圍	0.0001pF～99.99mF 五位數顯	0.00001pF～9.99999F 六位數顯
電容測量基本誤差	±0.05%	±0.05%
損耗因素D值范圍	0.0001～9.9999 五位數顯	0.00001～9.99999 六位數顯

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